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Title

Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte

Nanostructures and their characterization by transmission electron microscopy; science and art

dc.contributor.authorMendoza Ramírez, Miriam Carolina
dc.contributor.authorÁvalos Borja, Miguel
dc.date.accessioned2022-03-10T19:33:43Z
dc.date.available2022-03-10T19:33:43Z
dc.date.issued2020
dc.identifier.citationMendoza Ramirez, M., & Avalos Borja, M. (2020). Nanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte. Mundo Nano. Revista Interdisciplinaria En Nanociencias Y Nanotecnología, 13(25), 61-78. https://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2020.25.69630
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/11627/5771
dc.description.abstract"The description of nanometric systems is still being a challenging topic, for this reason the transmission electron microscopy (TEM) scope is exemplified in a didactic way using several nanosystems (Au nanoparticles and thin Si films). Throughout this work, conventional TEM techniques such as bright field (BF), dark field (DF), high angle annular dark field (HAADF), selected area electron diffraction (SAED) and electron energy loss spectroscopy (EELS) are shown, emphaticizing the differences with less conventional techniques such as convergent beam electron diffraction (CBED), large angle convergent beam electron diffraction (LACBED) and precession electron diffraction (PED). Also, some practical suggestions are given for describing contrast found on several TEM techniques, offering a striking, clear and didactic vision of the current scopes of TEM in Mexico."
dc.description.abstract"En el presente trabajo se describen de forma didáctica los alcances de la microscopía electrónica de transmisión (TEM) para el estudio de nanosistemas. Las ilustraciones mostradas se adquirieron empleando muestras ilustrativas (nanopartículas de Au y películas de Si). A lo largo de este escrito se ejemplifica el uso de algunas técnicas TEM convencionales, como BF, DF, HAADF, SAED y EELS, así como también se ejemplifica el empleo de técnicas avanzadas de difracción, como CBED, LACBED y PED. También se brindan algunas sugerencias prácticas que permitirán describir y diferenciar de forma sencilla el contraste observado en algunas de las técnicas disponibles en el TEM. Todo con el objetivo de ofrecer una visión, llamativa, clara y didáctica de los alcances actuales de la microscopía electrónica en México."
dc.publisherUNAM
dc.rightsAttribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 Internacional
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/
dc.subjectMicroscopía electrónica de transmisión
dc.subjectDifracción de electrones
dc.subjectPrecesión y haz convergente
dc.subject.classificationMICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
dc.titleNanoestructuras y su caracterización por medio de microscopía electrónica de transmisión; ciencia y arte
dc.titleNanostructures and their characterization by transmission electron microscopy; science and art
dc.typearticle
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.22201/ceiich.24485691e.2020.25.69630
dc.rights.accessAcceso Abierto


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